红外热像仪是通过吸收目标物体的能力辐射生成红外图像的温度测量的仪器,能够帮助我们看见肉眼无法看见的情况。它能够生成红外图像或热辐射图像,并且能够提供准确的非接触温度测量功能。因此,在很多领域红外热像仪是一种经济的检测工具。在红外热像仪使用的时候,可能会出现红外图像不清晰,总会有噪点,这些是由于机芯传感器引起的。
1、什么是坏点?
图像传感器上的像素点有问题,缺陷,在视频监控画面上呈现为黑色或者白色,称为坏点。
坏点
2、坏点产生的原因
图像传感器中的传感器上每一光线采集的点形成的阵列工艺存在缺陷,或光信号进行转化的过程中出现错误,会造成图像上有些像素的信息有误,导致图像中的像素值不准确,这些有缺陷的像素即为图像坏点
由于来自不同工艺技术和传感器制造商,尤其对一些低成本、消费品的传感器来说,坏点数会有很多。此外,传感器在长时间、高温环境下坏点也会越来越多,从而破坏了图像的清晰度和完整性。
3、坏点的分类
- 静态坏点
亮点:一般来说像素点的亮度值是正比于入射光的,而亮点的亮度值明显大于入射光乘以相应比例,并且随着曝光时间的增加,该点的亮度会显著增加;
暗点:无论在什么入射光下,该点的值接近于0;
- 动态坏点
在一定像素范围内,该点表现正常,而超过这一范围,该点表现的比周围像素要亮。与传感器温度、增益有关,传感器温度升高或者增益值增大时,动态坏点会变的更加明显。
4、坏点校正
- 静态坏点校正
静态坏点的校正是基于已有的静态坏点表,比较当前点的坐标是否与静态坏点表中的某个坐标一致,若一致则判定为坏点,然后再计算校正结果对其进行校正。
由于在硬件设计的时候需要占用大量的存储器,考虑到芯片面积以及一些其他原因,因此静态坏点有大小的限制,不可以无限制的校正。
传感器的静态坏点表一旦写入存储,数据处理中心模块会自动替换坏点表中所示坏点。
- 动态坏点校正
动态坏点的校正可以实时的检测和校正传感器的亮点与暗点,并且校正的坏点个数不受限制。动态坏点校正相对静态坏点校正具有更大的不确定性。
动态数据处理中心可以分为两个步骤,分别为坏点检测和坏点校正。
校正前
校正后